关于太阳诱电MLCC：

Q1： 此型号电容太诱原厂存在制造缺陷的比例是多少？

A1：能容忍的缺陷率10亿分之6。

Q2：太诱分析为电应力导致损伤的，请帮忙解释失效的过程。

A2：MLCC 的核心部分是电介质，它在正常工作电压下起到隔离电荷的作用，使电容器能够储存电荷。但当施加在 MLCC 两端的电压超过其额定值，达到一定程度时，电介质的绝缘性能会被破坏，电流急剧增大，这种现象就是电应力击穿。 电应力击穿一般发生在介质层很薄、大容量的 MLCC 中，击穿机理同电压击穿。本次失效模式为电压击穿，电容器在电场作用下，瞬时发生的击穿为电压击穿。其机理是电容器介质中的自由电子 在强电场作用下，碰撞中性分子，使之电离产生正离子和新的自由电子，这种电离过程的急 剧进行,形成雪崩式的电子流，导致介质击穿。这类击穿通常发生在环境温度不高的情况下， 击穿的发生与施加电压的时间和环境温度无关，主要取决于介质的微观结构，也和介质厚度、 电极面积等因素有关。